KS-HW150恒溫恒濕試驗箱

作者：CEO 時間：2023-01-13 點擊：0

信息摘要：KS-HW150恒溫恒濕試驗箱一、技術(shù)參數(shù)1.機器型號：KS-HW150L2.工作尺寸：500*600*5003.外箱尺寸：***0*1460*10404.內(nèi)箱容積：150L5.溫度范圍：高溫范圍0～+150℃低溫范圍0～-70℃（A:0℃B:-20℃C:-40

KS-HW150恒溫恒濕試驗箱

　　KS-HW150恒溫恒濕試驗箱

　　一、技術(shù)參數(shù)

　　1.機器型號：KS-HW150L

　　2.工作尺寸：500*600*500

　　3.外箱尺寸：***0*1460*1040

　　4.內(nèi)箱容積：150L

　　5.溫度范圍：高溫范圍0～+150℃

　　低溫范圍0～-70℃（A:0℃B:-20℃C:-40℃D:-50℃E:-60℃F:-70℃）

　　6.濕度范圍：20%~98%R.H.(10%-98%R.H/5%-98%r.h.為特殊選用條件）

　　7.溫濕度解析精度/均勻度：±0.1℃；±0.1%R.

　　8.溫濕度控制精度/波動度：±1.0℃；±2.0%R.

　　二、設(shè)備特點

　　1.具有自動演算的功能；

　　2.具有定值溫度及斜率設(shè)定功能；

　　3.具有保持、跳段、待機及兩組時間信號輸出功能；

　　4.具有冷機/熱機啟動選擇功能；

　　5.具有溫度顯示值修正功能；

　　6.具有溫度感測體校正功能；

　　7.具有壓縮機自動停開功能；

　　8.具有預(yù)約起動/停止運轉(zhuǎn)功能；

　　9.具有停電記憶功能：當(dāng)斷電后，程序數(shù)據(jù)記憶可保持6個月；

　　10.具有強大的網(wǎng)絡(luò)監(jiān)視、控制網(wǎng)絡(luò)功能；

　　11.具有***0段程式、每段可循環(huán)999步驟的容量，每段設(shè)定值為99小時59分；

　　12..具有故障報警及原因、處理提示功能；

　　13..具有上下限溫度保護功能；

　　14.具有自診斷功能；

　　15.具有PC鏈接空能；

　　三、控制方式

　　可程式恒溫恒濕試驗機系統(tǒng)容量：可登入150組程式×1500段,段數(shù)可任意分割,程式可自由相互聯(lián)結(jié)。

　　循環(huán)設(shè)定：可執(zhí)行9999×999回次數(shù)循環(huán),且可再切割出5組獨立之部份循環(huán)。

　　可程式恒溫恒濕試驗機控制方式：采智能型正逆雙向同步輸出,內(nèi)含之斜率控制邏輯。

　　可程式恒溫恒濕試驗機資料設(shè)定：觸控式對話框設(shè)定模式,操作簡易明確,內(nèi)建目錄數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)。

　　曲線繪制：當(dāng)溫、濕度、時間資料設(shè)定完成,可立即轉(zhuǎn)成設(shè)定曲線,運轉(zhuǎn)中亦可獲取實際運轉(zhuǎn)曲線之繪制。

　　時間訊號：3組時式控制輸出接口,搭配10種之時間控制模式,方便執(zhí)行外部驅(qū)動組件啟/停之時式規(guī)畫。

　　終了溫度：在完成測試時,可選擇執(zhí)行返回常溫之狀態(tài),以利測試物取出。

　　安全檢知：15項全功能之系統(tǒng)偵測,確保機臺運轉(zhuǎn)安全.并可自動顯示故障時間、項目及排除對策。

　　異常追溯：可顯示記錄故障之歷史資料,如過去曾發(fā)生故障之原因與發(fā)生時間之統(tǒng)計記錄。

　　可程式恒溫恒濕試驗機外部保護：獨立于主控制器之電子式超溫保護裝置,可設(shè)定受測對象之溫度上限保護。

　　通信接口：標(biāo)準(zhǔn)通信接口裝置,可與個人計算機（PC）同時聯(lián)機多機控制及管理。

　　裝置：可選購*記憶容量之裝置,以取代傳統(tǒng)昂貴之走紙記錄器;具自我診斷之功能,記錄間隔可自由選擇。

　　四、制冷系統(tǒng)

　　制冷系統(tǒng)是綜合試驗箱的關(guān)鍵部分之一。一般來說，制冷方式都是機械制冷以及輔助液氮制冷，機械制冷采用蒸汽壓縮式制冷，它們主要由壓縮機，冷凝器，節(jié)流機構(gòu)和蒸發(fā)器組成。如果我們試驗的溫度低溫要達到-55℃，單級制冷難以滿足要求，因此恒溫恒濕箱的制冷方式一般采用復(fù)疊式制冷。恒溫恒濕箱的制冷系統(tǒng)由兩部分組成，分別稱為高溫部分和低溫部分，每一部分是一個相對獨立的制冷系統(tǒng)。高溫部分中制冷劑的蒸發(fā)吸收來自低溫部分的制冷劑的熱量而汽化；低溫部分制冷劑的蒸發(fā)則從被冷卻的對象（試驗箱內(nèi)的空氣）吸熱以獲取冷量。高溫部分和低溫部分之間是用一個蒸發(fā)冷凝器聯(lián)系起來，它既是高溫部分的冷凝器，也是低溫部分的冷凝器。

　　五、加熱系統(tǒng)

　　試驗箱的加熱系統(tǒng)相對制冷系統(tǒng)而言，是比較簡單。它主要有大功率電阻絲組成，由于試驗箱要求的升溫速率較大，因此試驗箱的加熱系統(tǒng)功率都比較大，而且在試驗箱的底板也設(shè)有加熱器。

　　六、溫濕系統(tǒng)

　　溫度系統(tǒng)分為加濕和除濕兩個子系統(tǒng)。

　　加濕方式一般采用蒸汽加濕法，即將低壓蒸汽直接注入試驗空間加濕。這種加濕方法加濕能力，速度快，加濕控制靈敏，尤其在降溫時容易實現(xiàn)強制加濕。

　　除濕方式有兩種：機械制冷除濕和干燥除濕。機械制冷除濕的除濕原理是將空氣冷卻到溫度以下，使大于飽和含濕量的水汽凝結(jié)析出，這樣就降低了濕度。干燥器除濕是利用氣泵將試驗箱內(nèi)的空氣抽出，并將干燥的空氣注入，同時將濕空氣送入可循環(huán)利用的干燥進行干燥，干燥完后又送入試驗箱內(nèi)，如此反復(fù)循環(huán)進行除濕?，F(xiàn)在大部分綜合試驗箱采用前一種除濕方式法，后一種的除濕方法，可以使溫度達到0℃一下。適用于有特殊要求的場合，但費用較貴。

　　七、傳感器系統(tǒng)

　　傳感器主要是溫度和濕度傳感器。溫度傳感器應(yīng)用較多的是鉑電組和熱電偶。濕度的測量方法有兩種：干濕球溫度計法和固態(tài)電子式傳感器直接測量法。由于干濕球法測量精度不高，現(xiàn)在的恒溫恒濕箱正逐步的以固態(tài)傳感器代替干濕球來進行濕度的測量。

　　八、恒溫恒濕箱常見故障和解決方法

　　1、在高溫試驗中，如溫度變化達不到試驗溫度值時，可以檢查電器系統(tǒng)，逐一排除故障。如恒溫恒濕試驗箱溫度升得很慢，就要查看風(fēng)循環(huán)系統(tǒng)，看一下風(fēng)循環(huán)的調(diào)節(jié)擋板是否開啟正常，反之，就檢查風(fēng)循環(huán)的電機運轉(zhuǎn)是否正常。如溫度過沖厲害那么就需要整定PID的設(shè)置參數(shù)。如果溫度直接上升，過溫保護，那么，控制器出故障，須更換控制儀表。2、當(dāng)恒溫恒濕試驗箱低溫達不到試驗的指標(biāo)，那你就要觀察溫度的變化，是溫度降的很慢，還是溫度到值后溫度有回升的趨勢，前者就要檢查一下，做低溫試驗前是否將工作室烘干，使工作室保持干燥后再將試驗樣品放入工作室內(nèi)再做試驗，工作室內(nèi)的試驗樣品是否放置的過多，使工作室內(nèi)的風(fēng)不能充分循環(huán)，在排除上述原因后，就要考慮是否是制冷系統(tǒng)中的故障了，這樣就要請廠家的***人員進行檢修。后者的現(xiàn)象是恒溫恒濕試驗箱設(shè)備的使用環(huán)境不好所致，設(shè)備放置的環(huán)境溫度，放置的位置（箱體后與墻的距離）要滿足要求（在設(shè)備操作使用說明中都有規(guī)定）。

　　3、恒溫恒濕試驗箱在做濕熱試驗中，出現(xiàn)實際濕度會達到***%或者實際濕度與目標(biāo)濕度相差很大，數(shù)值低得很多，前者的現(xiàn)象：可能是濕球傳感器上的紗布干燥引起，那就要檢查濕球傳感器的水槽中是否缺水，水槽中的水位是由一水位控制器自動控制的，查水位控制器供水系統(tǒng)是否供水正常，水位控制器工作是否正常。另一種可能就是濕球紗布因使用時間長，或供水水質(zhì)純凈度的原因，會使紗布變硬，使紗布無法吸收水份而干燥，只要更換或清洗紗布即可排除以上現(xiàn)象。后者的現(xiàn)象主要是恒溫恒濕試驗箱的加濕系統(tǒng)不工作，查看加濕系統(tǒng)的供水系統(tǒng)，供水系統(tǒng)內(nèi)是否有的水量，控制加濕鍋爐水位的水位控制是否正常，加濕鍋爐內(nèi)的水位是否正常。如以上都正常，那就要檢查電器控制系統(tǒng)，這要請***維修人員進行檢修。

　　4、恒溫恒濕試驗箱設(shè)備在試驗運行過程中突然出現(xiàn)故障時，控制儀表上出現(xiàn)對應(yīng)的故障顯示提示并有聲訊報警提示。操作人員可以對照設(shè)備的操作使用中的故障排除一章中快速檢查出屬于哪一類故障，即可請***人員快速排除故障，以確保試驗的正常進行。其它環(huán)境試驗設(shè)備在使用中還會有其它的現(xiàn)象，那就要具體現(xiàn)象，具體分析和排除。

　　九、恒溫恒濕試驗箱標(biāo)準(zhǔn)

　　恒溫恒濕箱性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗設(shè)備》的要求:

　　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A：低溫試驗方法GB2423.1-89(IEC68-2-1)

　　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B：高溫試驗方法GB2423.2-89(IEC68-2-2)

　　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca：恒定濕熱試驗方法GB/T2423.3-93(IEC68-2-3)

　　電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Da：交變濕熱試驗方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)

　　GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法

　　GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗方法

　　GJB150.9-1986《***設(shè)備環(huán)境試驗方法：濕熱試驗》

　　GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗交變濕熱試驗》

　　GJB367.2-1987《***通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗方法》411濕熱試驗

　　GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗恒定濕熱試驗》